Проходные камеры

Предназначены для измерение внешним измерителем электрических параметров микросхем в спутниках-носителях при положительных и отрицательных температурах, сортировка по группам годности.

Камеры предназначены для проведения статического и функционального контроля транзисторов, диодных сборок при температурах -70 ÷ +150 0С, а так же сортировке их на годные и брак при совместной работе с измерителем.
Copyright MAXXmarketing GmbH