-
Главная
-
Продукция
-
Контрольно-испытательное оборудование
- Проходные камеры
Проходные камеры
Предназначены для измерение внешним измерителем электрических параметров микросхем в спутниках-носителях при положительных и отрицательных температурах, сортировка по группам годности.
Камеры предназначены для проведения статического и функционального контроля транзисторов, диодных сборок при температурах -70 ÷ +150 0С, а так же сортировке их на годные и брак при совместной работе с измерителем.
