Измеритель статических и динамических параметров микросхем КВК.ФИЦ.Э-50

КВК.ФИЦ.Э-50

АЗНАЧЕНИЕ:

Универсальная система контроля цифровых СБИС и БИС при разработке, контроле параметров в производстве и входном контроле у потребителей микросхем. Система обеспечивает контроль статических (только статические для КВК.СИЦ.Э-45) параметров и динамического функционирования БИС и СБИС, включая микропроцессоры, ПЛИС, МАБИС, EPROM и другие цифровые микросхемы.

 

ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ И ОСОБЕННОСТИ:

  • Высокоинтегрированная системная база ведущих мировых производителей;
  • Наличие режима «math» (запуск теста по совпадению выходной информации СБИС с заданной);
  • Малая потребляемая мощность;
  • Высокие метрологические характеристики.

 

ХАРАКТЕРИСТИКИ Ед.изм. КВК.ФИЦ.Э-50
Количество выводов контролируемых микросхем шт. 64
Частота контроля динамического функционирования, (при мультиплексировании 100 МГц) МГц до 50
Количество фаз шт. 16
Количество стробов шт. 8
Период тактовых импульсов (синхронизации)   20 нс - 100 мкс
Период тактовых импульсов с дискретностью нс 1
Дискретность программирования длительности фаз и стробов нс 0,2
Минимальная длительность импульсов фаз нс 5
Диапазон задания уровней драйверов и компараторов В  0,5 ÷ 6,5
Дискретность задания  мВ 2,5
Погрешность задания и сравнения мВ  ±1% + 10
Входной ток компараторов, не более мкА  1
Скорость нарастания фронтов драйвера нс/В  0,8
Разброс фронтов драйвера, не более нс  ±1
Объем памяти канала для хранения тестовых последовательностей М  4х1
Объем памяти ошибок бит/канал 256
Количество источников/измерителей шт.  7
Диапазон задания (контроля) напряжения В ±2
Диапазон задания (контроля) тока мкА  ±0,01 -200
Мощность потребляемая системой кВт 1
Электропитание:    
 - сеть переменного тока В  220±10%
 - частота Гц  50

 

Скачать описание в формате PDF